(주)글로벌링크
   
 
(2007-11-27 [15:38], Hit : 480)
[홍보] Semicon Japan 2007 전시회 출전!


(주)글로벌링크가 그 동안 여러분의 성원에 힘입어 야심차게 개발한 압흔검사기를


SEMICON JAPAN 2007에 전시하게 되었습니다.


기존 Area Scan Type의 압흔검사기 보다 검사효율 및 성능을 크게 향상시킨


Line Scan Type의 압흔검사기를 처음으로 소개하는 뜻 깊은 자리에 여러분을


초대하오니 많은 관심과 성원 부탁드립니다.


1. 전시회 명 : SEMICON JAPAN 2007


2. 전시 일시 : 2007년 12월 5일 ~ 7일


3. 장        소 : 일본 치바현 Makuhari Messe 컨벤션 센터


4. 전시 Booth:  Hall 8C - 801


5. 전시 제품 : 압흔검사기 (Trace Inspection System)
                     [Line Scan Type 및 Area Scan Type]


* 전시회 상세정보 : http://www.semiconjapan.org 





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